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五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù):射線檢測(cè)(Radiographic Testing)、超聲檢測(cè)(Ultrasonic Testing)、磁粉檢測(cè)(Magnetic Particle Testing)、滲透檢測(cè)(Penetrant Testing)、渦流檢測(cè)(Eddy Current Testing)。
一:射線檢測(cè)(RT)的原理和特點(diǎn)
射線檢測(cè)(Radiographic Testing),業(yè)內(nèi)人士簡(jiǎn)稱RT,是工業(yè)無(wú)損檢測(cè)(Nondestructive Testing)的一個(gè)重要專業(yè)門(mén)類(lèi)。
射線檢測(cè)主要的應(yīng)用是探測(cè)工件內(nèi)部的宏觀幾何缺陷。按照不同特征,可將射線檢測(cè)分為多種不同的方法,例如:X射線層析照相(X-CT)、計(jì)算機(jī)射線照相技術(shù)(CR)、射線照相法,等等。
下圖:
*行左起一:固定式磁粉探傷機(jī);*行左起二:射線檢測(cè)室的防護(hù)屏蔽門(mén)。
第二行左起一:便攜式X射線管;第二行左起二:A型顯示的模擬式超聲波探傷儀。
射線照相法,利用X射線管產(chǎn)生的X射線或放射性同位素產(chǎn)生的γ射線穿透工件,以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法。該方法是zui基本、應(yīng)用zui廣泛的的一種射線檢測(cè)方法,也是射線檢測(cè)專業(yè)培訓(xùn)的主要內(nèi)容。
射線照相法的原理
射線檢測(cè),本質(zhì)上是利用電磁波或者電磁輻射(X射線和γ射線)的能量。
射線在穿透物體過(guò)程中會(huì)與物質(zhì)發(fā)生相互作用,因吸收和散射使其強(qiáng)度減弱。強(qiáng)度衰減程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和射線在物質(zhì)中穿透的厚度。
射線照相法的原理:如果被透照物體(工件)的局部存在缺陷,且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)又不同于試件(例如在焊縫中,氣孔缺陷里面的空氣衰減系數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于鋼的衰減系數(shù)),該局部區(qū)域的透過(guò)射線強(qiáng)度就會(huì)與周?chē)a(chǎn)生差異。把膠片放在適當(dāng)位置使其在透過(guò)射線的作用下感光,經(jīng)過(guò)暗室處理后得到底片。
射線穿透工件后,由于缺陷部位和完好部位的透射射線強(qiáng)度不同,底片上相應(yīng)部位等會(huì)出現(xiàn)黑度差異。射線檢測(cè)員通過(guò)對(duì)底片的觀察,根據(jù)其黒度的差異,便能識(shí)別缺陷的位置和性質(zhì)。
以上描述的基本原理和醫(yī)院拍X光大同小異。
射線照相法的特點(diǎn)
1、適用范圍
適用于各種熔化焊接方法(電弧焊、氣體保護(hù)焊、電渣焊、氣焊等)的對(duì)接接頭,也能檢查鑄鋼件,在特殊情況下也可用于檢測(cè)角焊縫或其他一些特殊結(jié)構(gòu)工件。
2、射線照相法的優(yōu)點(diǎn)
a)缺陷顯示直觀:射線照相法用底片作為記錄介質(zhì),通過(guò)觀察底片能夠比較準(zhǔn)確地判斷出缺陷的性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和位置。